溫度沖擊試驗箱是氣候環(huán)境測試設(shè)備中兩個重要的氣候模擬試驗箱。這些溫度,濕度和氣候模擬設(shè)備廣泛用于電子,機械,化學,建筑和其他行業(yè),為研究各種設(shè)備,材料和零件的環(huán)境適應性提供了可靠的人工環(huán)境。這些設(shè)備提供的人工環(huán)境的可靠性無疑在整個測試結(jié)果中起著至關(guān)重要的作用,并且有許多因素需要控制。不會進行試驗箱的溫度超調(diào)?這里有攻略,超詳細!
使用溫度沖擊試驗箱時,對于溫度超調(diào)的問題,建議在標準中明確“溫度超調(diào)”,這與相應的2℃溫度偏差要求一致,或者要求溫度超調(diào)。測試箱與測試點的溫度值成正比,例如0?100℃時的過沖不應超過2℃,100℃以上時的過沖不應超過測試點的2%,-80電流控制儀的調(diào)節(jié)和控制精度,這個要求比較容易滿足。另外,對于那些裝有冷,熱對策的設(shè)備,例如壓縮機和冷卻水,這不是問題。同時,對于帶有“溫度超調(diào)”的溫度框,標準可以為“溫度超調(diào)恢復時間”給出一些時間建議,例如:3、5、8、10、15分鐘供用戶選擇。根據(jù)經(jīng)驗,對仍用于溫控能力較差的企業(yè)使用的高溫,低溫熱沖擊試驗箱,提出以下建議:
1、機柜的加熱和冷卻方法可分為單次加熱,單冷和單冷。三種形式的耐熱性。對于具有耐寒性和耐熱性的機柜,可以很好地控制加熱過程和冷卻過程。在足夠的儀器控制精度的前提下,產(chǎn)生的溫度過沖相對較小,但是在一次加熱和一次冷卻過程中,過沖具有更大的影響。由于制冷單元無法實現(xiàn)大規(guī)模調(diào)節(jié),因此只能通過單元的開關(guān)來控制,因此溫度過沖的問題只能通過儀器的控制精度和單元的開關(guān)頻率來控制。通常,單個加熱箱配備有兩組或三組加熱器,這些加熱器由制造商提供,用于合理分配加熱功率。在啟動測試腔室的過程中,許多用戶習慣于直接打開所有加熱器,因此溫度始終接近設(shè)定指標的上限。如果機柜控制系統(tǒng)的精度較低,則在加熱器的加熱和保溫周期中會出現(xiàn)間歇性的過沖,這將使機柜溫度不穩(wěn)定于設(shè)定值。在這兩種情況下,溫度超調(diào)基本上都是由用戶對設(shè)備的無知引起的。解決方法是仔細閱讀產(chǎn)品手冊,它通常給出需要在測試溫度下打開的加熱器的數(shù)量。如果加熱時間過長,則可以先打開所有加熱器,到目標測試點的距離大約為10°C時可以關(guān)閉多余的加熱器,這樣基本上可以保證機柜處于正常狀態(tài)。此外,單個加熱設(shè)備配備有調(diào)節(jié)柜體內(nèi)部溫度的風門。正確使用風閥還可以避免溫度過沖和溫度過度波動的問題。
2、溫度超調(diào)的原因是儀器的精度。過去,許多測試設(shè)備制造商使用的儀器的精度通常較低,并且響應速度相對較慢。有時盒子中的溫度已經(jīng)很高,但是儀器沒有響應。另外,許多純高溫設(shè)備沒有配備壓縮機和冷卻水等冷卻設(shè)備,因此只有在溫度過度調(diào)節(jié)后才能自然冷卻,這很可能導致溫度過度調(diào)節(jié)。例如,一些家用試驗箱使用的控制儀器的精度為0.5?1℃。以015℃的控制儀器為例,儀器本身的精度為0.5℃。此外,由于傳感器響應速度對溫度的影響,實際測試箱的控制精度接近1°C。另外,在中斷熱之后,加熱管的廢熱也對溫度產(chǎn)生影響。溫度箱的儀器精度通常應控制在0.2°C以下。目前,大多數(shù)新生產(chǎn)的試驗箱都采用PID(比例,微分,積分)控制,溫度過沖問題已得到很好的控制,但PID控制的設(shè)置更為重要。該問題通常由設(shè)備制造商解決。在新設(shè)備到達現(xiàn)場后的驗證過程中,檢查員和設(shè)備制造商會同時在場,以協(xié)商和調(diào)整PID控制設(shè)置。
3、溫度沖擊試驗箱的溫度超調(diào)是由傳感器的位置和攪拌風的方向引起的。實驗證明,將傳感器布置在出風口是一種更好的方法。這由控制原理確定,因為傳感器位于出風口。在溫度上升和下降期間,出風口的溫度高于盒子中其他地方的溫度。當傳感器的感測溫度未達到設(shè)定值時,測試箱的加熱器(或制冷單元)將以全功率工作。達到溫度后,加熱器(或制冷裝置)將停止以全功率工作,并切換為間歇工作。在攪拌風的作用下,測試箱中每個點的溫度逐漸變平。此時,如果傳感器的響應速度很慢,則會導致加熱器在達到溫度后繼續(xù)工作一段時間,這將導致另一種溫度過沖的情況。這也是檢測中的常見情況,因此需要在工廠中進行。